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标题: 台湾麦肯积MCU投向无刷电控的原子弹级芯片 [打印本页]

作者: ckks 时间: 2008-10-22 20:52
标题: 台湾麦肯积MCU投向无刷电控的原子弹级芯片
台湾芯片向来给个别人认为是不可靠的向争，但是只有他们在做实实在在的事为电动车无刷在打造专用的芯，像MDT就造就了一款　MDT14P201的芯　功能是把外面的4个门路电集成在芯片上了　死区时间可以调节，并且资料显示把16M的外振引入了内振，这样的话多了了4只IO口　并且他还在片芯片　多制造出了4个IO口　所以还有一个32PIN的同级芯片选择的名叫　MDT14P202　　在抗干扰上做了更进　工业级别　主要是价格是目前各类芯片中最低的　最难的是公司对晶源进行了改进使的对它的破解蒋是非常困难暂时无人能破，以上是本人和他们公司的一点相关信息。

[ 本帖最后由 ckks 于 2008-10-22 21:23 编辑 ]

作者: yjz 时间: 2008-10-22 23:03
这个,我已经拿到了麦肯公司用这个芯片做的无刷控制器样机,过几天有空细细测一下.

根据麦肯公司报价,应该有一定性价比的.

作者: ckks 时间: 2008-10-23 18:40
方振兄　要你好好推一下了啊　　呵呵毕近还有32PIN的　支持一下麦肯　让他为电动车无刷的努力有点回报　。

作者: aska2000 时间: 2008-10-24 18:52
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作者: ckks 时间: 2008-10-26 13:33
只是不是FLASH的　有点不到位　最好是用像NEC一样　就不用　EEPROM了　直接存在FLASH里　更可靠。

作者: ckks 时间: 2008-10-29 20:14
一个好芯片　我顶顶

作者: yjz 时间: 2008-11-5 08:55

原帖由 ckks 于 2008-10-26 13:33 发表
只是不是FLASH的　有点不到位　最好是用像NEC一样　就不用　EEPROM了　直接存在FLASH里　更可靠。

直接写FLASH是通过专用程序来模似EEPROM操作的,比直接存在FLASH里更加不可靠,据我们了解,丢失数据的比例大约为2%.

作者: aska2000 时间: 2008-11-9 21:38
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作者: aska2000 时间: 2008-11-9 21:40
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作者: ckks 时间: 2008-11-10 08:20
每次学　还不如不学了　仿EEPROM功能　效果就是要有类似的　存入后是可以一直使用的。

作者: aska2000 时间: 2008-11-10 09:02
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作者: yjz 时间: 2008-11-10 19:56

原帖由 aska2000 于 2008-11-9 21:38 发表
好像说反了吧？ATMEL芯片上电掉EEPROM，在无锡那边听说的人可能不少吧，至于拿FLASH模拟EEPROM的，其实不存在掉EEPROM的，要么就是芯片坏了。这个可以和你当面试，同样做个20个控制器，不停的开关电门锁半小时，看看 ...

没有说反.正如有的ATMEL方案在芯片上电掉电时掉EEPROM一样,只要你存在FLASH模拟EEPROM的读写程序,只要你在程序设计时不注意相关事项,都会有丢失数据事情的发生,何况FLASH模拟EEPROM的程序比ATMEL的EEPROM操作程序复杂得多,执行时间也长得多,就更容易发生意外.
说FLASH模拟EEPROM的不会丢失数据,纯粹是在糊弄外行.

作者: yjz 时间: 2008-11-10 20:20

原帖由 aska2000 于 2008-11-9 21:40 发表
当然每次开电门锁时要学习一边啊，不然的估计都没问题吧。

每次开电门锁时都学习?你这样做试验怎么还会丢失数据呢?

正确的试验方法应该是在学习完成后再反复开关电门锁,测试cpu在电压未至其正常工作电压时会不会出现FLASH模拟EEPROM程序对模拟EEPROM数据区进行写操作的误触发现象发生.

我们的自学习控制器能做到无论你开关电门锁多少次都不会有丢EEPROM数据的现象发生,因为我们采用了智能电源关闭技术,由程序而不是电门锁来关断mcu供电,这样,操作EEPROM都会发生在电压稳定的时候,就不可能出现EEPROM数据丢失.

作者: zwmcu 时间: 2008-11-11 00:07
aska2000 yjz 你们俩当面试了把结果告诉大家一下哈！

作者: aska2000 时间: 2008-11-11 12:50
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