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楼主: ckks
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台湾麦肯积MCU投向无刷电控的原子弹级芯片

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11#
发表于 2008-11-10 09:02:57 | 只看该作者
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12#
发表于 2008-11-10 19:56:35 | 只看该作者
原帖由 aska2000 于 2008-11-9 21:38 发表
好像说反了吧?ATMEL芯片上电掉EEPROM,在无锡那边听说的人可能不少吧,至于拿FLASH模拟EEPROM的,其实不存在掉EEPROM的,要么就是芯片坏了。这个可以和你当面试,同样做个20个控制器,不停的开关电门锁半小时,看看 ...

没有说反.正如有的ATMEL方案在芯片上电掉电时掉EEPROM一样,只要你存在FLASH模拟EEPROM的读写程序,只要你在程序设计时不注意相关事项,都会有丢失数据事情的发生,何况FLASH模拟EEPROM的程序比ATMEL的EEPROM操作程序复杂得多,执行时间也长得多,就更容易发生意外.
说FLASH模拟EEPROM的不会丢失数据,纯粹是在糊弄外行.
13#
发表于 2008-11-10 20:20:22 | 只看该作者
原帖由 aska2000 于 2008-11-9 21:40 发表
当然每次开电门锁时要学习一边啊,不然的估计都没问题吧。

每次开电门锁时都学习?你这样做试验怎么还会丢失数据呢?

正确的试验方法应该是在学习完成后再反复开关电门锁,测试cpu在电压未至其正常工作电压时会不会出现FLASH模拟EEPROM程序对模拟EEPROM数据区进行写操作的误触发现象发生.

我们的自学习控制器能做到无论你开关电门锁多少次都不会有丢EEPROM数据的现象发生,因为我们采用了智能电源关闭技术,由程序而不是电门锁来关断mcu供电,这样,操作EEPROM都会发生在电压稳定的时候,就不可能出现EEPROM数据丢失.
14#
发表于 2008-11-11 00:07:49 | 只看该作者
aska2000 yjz 你们俩当面试了把结果告诉大家一下哈!
15#
发表于 2008-11-11 12:50:57 | 只看该作者
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